SEM原位冷热台是一种在扫描电子显微镜（SEM）标准样品台上（无需改造电镜内部），提供样品原位变温测试的电镜附件。通过外接法兰装置实现对冷热台上的样品进行控温，稳定后温控精度最高可达±0.1℃ 可实现样品变温测试的温度范围：-185~50℃ / -185~200℃，满足原位高低温材料相变微观表征。SEM原位冷热台适合于各种样品在扫描电子显微镜中进行高低温结构研究，固定在现有样品台上。支持在现有各种扫描电子显微镜（蔡司、日立等）适配。
•温度范围：-190~600℃ / RT~1000℃
•温度稳定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
•升降温速度：0 ~50℃ /min
•支持反射/透射模式
•气密腔室，可通保护气体
•上位机软件控制
•支持改动或定制

常温下的镓样品


-185℃下的镓样品