XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C  支持在空气 / 惰性气体  / 真空的环境条件下进行测试。

适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪（布鲁克、赛默飞、理学等）上定制样品架进行适配。

简要参数：
•温度范围：-190~600℃ / RT~1200℃
•温度稳定性：±0.1℃（＜600℃）±1℃（＞600℃）
•支持反射/透射模式
•气密腔室，可通保护气体
•腔室可升级真空腔室（10^(-3)  mbar）
•上位机软件控制
•支持改动或定制

参数一览表：

产品图：